HAST-400偏压老化测试系统是一种用于评估半导体芯片在恶劣环境条件下的性能和可靠性的测试设备。该系统通过模拟高温高湿环境，并施加偏置电压，以加速芯片的老化过程，从而在短时间内检验芯片的可靠性和寿命。
一、系统概述
HAST-400偏压老化测试系统是一种先进的可靠性测试设备，广泛应用于半导体芯片、IC封装、液晶屏、LED、磁性材料等领域。该系统通过立式结构设计，能够更有效地模拟实际使用中的环境条件，同时结合偏压老化测试，对芯片进行全面的可靠性评估。
二、系统特点
高温高湿环境模拟：HAST测试系统能够模拟高温高湿环境，温度范围通常可达+100℃+132℃，湿度范围在70%——100%RH之间。这种环境模拟有助于加速芯片的老化过程，快速暴露潜在问题。
偏置电压施加：系统能够给被测芯片施加一定的偏置电压，以模拟实际工作中的电气条件。通过实时监测芯片的漏电流等参数，评估芯片在偏压条件下的性能变化。
独立控制：每颗芯片的Vgs（栅源电压）可独立控制，确保测试的准确性和灵活性。同时，系统能够实时监测每个试验器件的Id（漏极电流）和Ig（栅极电流），为数据分析提供全面支持。
数据记录与分析：全过程试验数据保存于硬盘中，并可输出为Excel报表。系统还能绘制全过程漏电流IR变化曲线，帮助用户直观了解芯片的老化过程。
安全保护：当被测芯片的实时漏电流超出设定值时，系统会自动切断电压，保护芯片不被进一步烧毁。这种漏电流超限保护功能确保了测试过程的安全性。
三、应用领域
HAST-400偏压老化测试系统适用于各种封装形式的射频场效应管、射频功率器件等半导体芯片。通过该系统的测试，可以评估芯片在高温高湿及偏压条件下的可靠性和耐久性，为产品的设计和生产提供重要依据。